德國蔡司 GOM Probe 光學追蹤探針

在許多復雜的測量應用中，需要結合應用以型面為基礎和以點為基礎的三維測量。GOM接觸式探針可作為附件加裝在ATOS三維掃描儀上使用：

·       　? 全局測量和探觸式探針測量

·       　? 測量不易達及的區域

·       　? 直接與CAD 數據進行比較

·       　? 測量各種規則幾何形狀（基元）

·       　? 快速測量各個單點

·       　? 在線對齊

GOM接觸式探針上具有一組經過標定的參考點標。使用ATOS三維掃描儀，可以對這組參考點標的坐標進行光學追蹤。ATOS測量系統可提供一個多邊形網格，這個多邊形網格精確描述了任意形狀表面，并顯示接觸式探針的在線三維坐標。

掃描和探觸式測量的結合

ATOS測量系統，應用動態參照技術，因此允許自由移動或定位被測物體及測量頭。測量頭和被測物體不受相對固定關係的牽制，這便于按測量系列進行靈活的全位測量，省去重複夾持測量頭和工件的繁瑣操作。

輕便上手的GOM探針均重約100克，便于長時間測量，還適用于較大的測量項目。探針內部沒有電子元件或線纜，保證了使用的穩定性及自由度。