ZEISS GeminiSEM 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

ZEISS GeminiSEM 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

運用ZEISS GeminiSEM 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列產(chǎn)品，您可輕松獲取真實世界中任意樣品出色的圖像和可靠的分析結(jié)果GeminisEy 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息，其創(chuàng)新設(shè)計的NanoVP可變壓力模式

甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺:GeminiSEM 450 具有出色的易用件設(shè)計、更快的響應(yīng)和更音的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析，充當(dāng)您的得力助手;

GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)，使FESEM初學(xué)者也能快速掌握;